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            • IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H
              IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H

              測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode(小電流器件)進(jìn)行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開(kāi)啟和關(guān)閉引起的反復高溫和低溫,加速芯片內各種組件材料和結合面的熱機械應力,驗證封裝、內部鍵合等承受由芯片操作引起的熱機械應力能力。IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1116
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            • IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統
              IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統

              IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統 華科智源-功率循環(huán)老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實(shí)驗,通過(guò)控制實(shí)驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線(xiàn)失效和焊料層老化。實(shí)驗的關(guān)鍵是控制結溫的波動(dòng)范圍以及最高溫度,得到不同條件下的實(shí)驗壽命,從而得到IGBT的壽命。

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1199
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            • SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000
              SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000

              SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數:   適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時(shí)間參數測試。

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:674
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            • HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀
              HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀

              HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設備擴展性強,通過(guò)選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點(diǎn)擊即可完成測試任務(wù)。系統采用帶有開(kāi)爾文感應結構的測試插座,自動(dòng)補 償由于系統內部及測試電纜長(cháng)度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:576
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            • MOS管動(dòng)態(tài)參數測試儀ITC57300
              MOS管動(dòng)態(tài)參數測試儀ITC57300

              MOS管動(dòng)態(tài)參數測試儀ITC57300 ITC57300是美國ITC公司設計生產(chǎn)的高集成度功率半導體分立器件動(dòng)態(tài)參數測試設備,采用測試主機+功能測試頭+個(gè)性板的測試架構,可以滿(mǎn)足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動(dòng)態(tài)參數的測試要求,且具有波形實(shí)時(shí)顯示分析功能,是目前具水平的完備可靠的動(dòng)態(tài)參數測試設備。

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:905
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            • 大功率IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1200A-MT
              大功率IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1200A-MT

              大功率IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1200A-MT 華科智源IGBT電參數測試儀,可用于多種封裝形式的IGBT的測試,還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試,廣泛應用于軌道交通,電動(dòng)汽車(chē),風(fēng)力發(fā)電,焊機行業(yè)的IGBT來(lái)料選型和失效分析。測試過(guò)程簡(jiǎn)單,既可以在測試主機里設置參數直接測試,又可以通過(guò)軟件控制主機編程后進(jìn)行自動(dòng)測試。

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:696
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            • IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224
              IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224

              IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 該設備用于功率半導體模塊(IGBT、FRD、肖特基二極管等)的動(dòng)態(tài)參數測試,以表征器件的動(dòng)態(tài)特性,通過(guò)特制測試夾具的連接,實(shí)現模塊的動(dòng)態(tài)參數測試 品牌: 華科智源 名稱(chēng): 雙脈沖測試平臺 用途: 測試動(dòng)態(tài)參數

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:752
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            • IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1600A-MT
              IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1600A-MT

              IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀,測試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數,并生產(chǎn)器件傳輸曲線(xiàn)和轉移曲線(xiàn),測試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于器件設計,封裝測試,軌道交通,電動(dòng)汽車(chē) ,風(fēng)力發(fā)電,變頻器,焊機等行業(yè)的IGBT來(lái)料選型和失效分析。

              更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)問(wèn)量:744
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